WT-3000JPV　300mm无接触方块电阻监控
　　WT-3000JPV无接触、无损伤、快速测量方块电阻，适用于300mm硅片测试。可进行全面扫描。

主要特点：
－与四探针测量结果保持高度一致性
－非接触测试，测试无沾污
－样品无需特别处理，可测有氧化层的样品
－能测超浅结
－快速全面扫描测试
－能测量分流　
WT-2000JPV　200mm及以下无接触方块电阻监控
  　　WT-2000JPV利用无接触、非破坏性、无沾污的测试方法，测试之后的硅片能直接进行后续工艺处理，适用于200mm及以下硅片测试。

主要特点：
－与四探针测量结果保持高度一致性
－无接触测试，对样品没有沾污
－样品无需特别处理，可测有氧化层的样品
－能测超浅结
－快速全面扫描测试
－能测量分流