WT-2000PV　测试平台

WT-2000PV提供快速、无接触、无损伤的多功能扫描测试平台，在光伏领域可以集成以下测试技术：

－u-PCD / 微波光电导衰减法少子寿命扫描
－SPV / 表面光电压法扩散长度扫描
－LBIC / 电池的光诱导电流扫描
－Reflectance / 反射率扫描分布
－IQE/EQE 内/外量子效率扫描
－SHR / 无接触方块电阻扫描
－Eddy Current / 涡流法体电阻率扫描
－Iron concentration / 无接触铁含量扫描
－Thickness / TTV 硅片厚度、TTV测试
－Bias light / 偏置光选项

WT-1000B　单点少子寿命测试仪

　　WT-1000B单点硅棒、块或硅片的少子寿命测试仪，提供快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命测试。

主要特点：
－适应低电阻率样片的测试需要
－全自动操作及数据处理 
－能够灵活测试硅锭、硅棒以判断头尾位置
－对硅棒进行分选

主要应用：
－材料的质量控制(单晶硅棒的出厂、进厂检查)

WT-1000Res 单点少子寿命、电阻率和厚度测试仪

　　WT-1000Res 单点硅片少子寿命、硅片厚度和电阻率测试仪，提供快速、无接触、无损伤的测试。该设备主要应用于硅片出厂、进厂检查，电池生产过程监控等。

主要应用：
－硅片进（出）厂的质量控制
－电池工艺过程质量控制

WT-1000　单点硅片少子寿命测试仪

　　WT-1000 硅片单点少子寿命测试仪，提供无接触、快速、无损伤的硅片的少数载流子寿命的测试。该设备主要应用于硅片出厂、进厂检查，生产工艺过程监控等。

主要应用：
－材料的质量控制
－工艺过程质量控制